HAST高壓加速壽命試驗箱*主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCTZ主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。
箱式UV紫外線老化試驗箱就可以再現(xiàn)戶外需要數(shù)月或數(shù)年才能產生的破壞,包括褪色、變色、亮度下降、粉化、龜裂、變模糊、脆化、強度下降及氧化等老化情況。通過快速、真實地再現(xiàn)陽光、雨、露對材料的損害,提供的可靠數(shù)據可對產品的耐候(抗老化)性做出準確的相關性預測,并有助于材料及配方的篩選、